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当今世界,核科学技术已经渗透进我们生活中的方方面面,医学、工业、农业等领域都有它的身影,可见核科学技术的发展对人类文明进步起着不可或缺的作用。虽然核科学技术不断地造福人类,但其发展带来核扩散的形势却不容乐观,比如放射性核材料的非法转移、核反应堆工程及其设施退役的核辐射监测等,对海关货物安检和核电站都提出了种种挑战,国际原子能机构(IAEA)也长久致力于提高放射性核材料的监测技术,核辐射的监测主要是以放射性能谱测量为前提。放射性能谱测量技术应用广泛,其中γ能谱探测技术适用于环境监测、寻矿、核反应堆退役设备的监测等。随着γ能谱探测技术应用的普及化,各行业对其测量精度的要求也越来越高,为满足在各领域的应用需求,如何克服谱漂和提高稳定性就成为谱仪研制中一个亟待解决的问题。论文利用NaI(Tl)谱仪对γ能谱进行测量,以此作为对象展开研究。NaI(Tl)谱仪采用大体积的NaI(Tl)晶体配合光电倍增管等电子元器件组成探头,由于晶体本身一致性、稳定性、均匀性较差,性能参数受温度影响明显;同时,光电倍增管的放大倍数以及其它电子元器件的性能也易受温度变化的影响。上述因素都会引起NaI(Tl)谱仪系统谱线的非线性漂移,对测量精度造成影响。因此论文对国内外γ能谱测量技术和γ能谱温漂校正方法技术进行了深入的调研、分析与总结。在此基础上开展了NaI(Tl)谱仪温漂校正技术的研究,较详细地分析了NaI(Tl)谱仪仪器谱的形成原理及仪器谱线产生漂移的原因,通过γ能谱的温漂实验和对温漂规律的研究,为γ能谱温漂校正方法提供理论与数据基础。大量实验数据表明谱仪在10~°C~40~°C的温度区间内,其谱线全能峰道址最大漂移量可达±43道(1024道),显然不能满足谱仪测量高精度的要求。因此本文主要根据现有的几种温漂校正方法,对其优缺点比较总结后,再通过对NaI(Tl)谱仪工作特性以及具体实验数据结果的分析,提出适合NaI(Tl)谱仪的温漂校正方案,得出温度变化量与谱仪放大倍数之间的规律曲线,利用最小二乘法对此曲线进行拟合,建立起温度与放大倍数之间的数学模型。设计了温度采集与放大倍数计算模块,通过DS18B20温度传感器与STM32F103Z单片机完成温度采集,将温度值经RS485转换器与上位机进行MODBUS-RS485通信完成数据交换,再由上位机软件对放大倍数值进行读取、计算、调节,校正因温度变化而发生漂移的谱线。论文设计的校正方案无需对谱仪结构做出额外改动,不会因调节高压而对谱仪其它性能产生影响,同时降低了采取参考源校正的方式给操作人员带来的伤害,并通过实验证明此技术可以将谱线全能峰道址最大漂移量减小到±4道(1024道),有效地降低了温度变化对谱线的影响,实现对谱仪系统的温漂校正,确保了整个系统安全、稳定、可靠。