【摘 要】
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该论文研究了噪声在半导体激光器的质量表征和可靠性评价方面的应用.首次测量和分析了腔面状况改变对于器件噪声的影响,讨论了器件噪声与表面电流的相关性.分析了表面态,界面
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该论文研究了噪声在半导体激光器的质量表征和可靠性评价方面的应用.首次测量和分析了腔面状况改变对于器件噪声的影响,讨论了器件噪声与表面电流的相关性.分析了表面态,界面态,串并联回路,内部缺陷对噪声和器件质量的影响,这对确定噪声来源进而分析失效机制具有指导意义.首次将器件在小注入下的噪声引入半导体激光器的可靠性筛选,提高了筛选的准确率.从测试电流和判据选择以及噪声判据阈值确定等方面提出了提高筛选准确性的新措施,并与实际老化结果进行了对照.首次将小波分析引入半导体激光器噪声信号处理和器件可靠性分析.用小波变换的方法有效地提取了噪声信号中的l/f成分,精确定位了器件g-r噪声的转折频率,分析了不同器件噪声信号的奇异性和奇异点,根据分析结果,对器件可靠性进行了评价.作者还建立了半导体激光器噪声测试系统,系统的本底噪声小于1nV/Hz<1/2>,采用互谱技术后,本底噪声可以达到0.1nV/Hz<1/2>.
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