故障诊断是电路领域中的重要研究方向,随着电路规模越来越大,电路结构越来越复杂,当电路发生故障时的诊断成本越来越高,为了解决这一问题,众多学者与研究机构开始电路故障诊断的研究。电路故障诊断方法根据电路类型不同可以分为:数字电路故障诊断、模拟电路故障诊断和混合电路故障诊断。针对数字电路故障诊断,基于测试集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法。本文首先通过对电路中故障输出特征的研究,结合ADD候选故障诊断求解方法,提出故障响应指导下基于测试集的候选故障诊断求解方法ALFDD:依据当前测试激励下实际输出响应与预期输出响应不相同的单故障更可能是故障诊断解的原理,提出候选单故障集合的概念。针对ADD方法中需对电路中所有单故障求解F_same的问题,给出仅对候选单故障集合求解F_same的方法。该方法一方面避免了对所有单故障都进行对比并求解F_same的问题,提高了诊断求解效率;另一方面有效删除了F_same中包含的冗余候选诊断解,提升候选诊断解的分辨率;此外,还增加了候选故障集中所包含的真实诊断解的数量,提升了候选诊断解的准确率。实验结果表明,与ADD方法相比,ALFDD方法候选诊断分辨率和准确率明显提升,求解效率也有较大提高。随后,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征,通过分析电路故障输出响应,提出基于测试集重排序的候选诊断求解方法RTDD方法:根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度不同,提出测试分数概念。通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应,计算出测试激励的测试分数。测试集依据测试分数进行重排序,并将重排序后测试集用于故障诊断。与GTreord方法的对比实验结果表明,该方法一方面提高了测试集重排序的效率,求解时间提高1至4个数量级;另一方面在保障同样诊断准确性的情况下,RTDD方法有效减少所需测试激励个数。