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利用质子荧光分析（PIXE）方法在聚碳酸酯薄膜上测定了日本地质调查局标准岩石和矿石样品的化学组分，样品为细粒、微量的（1-2mg）粉末地质样品。PIXE测试的结果表明：对标准岩石样品而言，具有0．4μm孔径薄膜的测定值与其他孔径薄膜（0．2，0．6和0．8μm）的测定值相比，其相对岩石标样的参考值变化更小，更适合作为理想样靶被采用；对标准矿石样品而言，0．2μm孔径薄膜的测定值与矿石标样的参考值相比，更适合作为理想的样靶。日本地质调查局标准岩石和矿石样品测定的化学组分总是稍微不同于标准样品的参考值，因此计