电子封装镀金液中镍杂质的光度分析

来源 :理化检验(化学分册) | 被引量 : 0次 | 上传用户:tigernone
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
镀金技术广泛应用于高可靠性半导体及微电子封装,军标规定了镀金层的纯度要求,金的含量应不小于99.9%.在电镀时镀金液中的某些金属杂质容易与金共沉积,使镀金层纯度降低,最终影响电子封装的质量[1].镀金液中的镍离子是一种有害的金属杂质,它与铁离子的最大允许量为50~250mg@L-1(具体数值视镀金液类型而定)[2].为了保证镀金层的纯度,减少镀液中镍杂质的共沉积,就需对镀液中微量镍进行检测.由于吸光光度法简便、易于操作,因此非常适合现场使用.
其他文献
<正>~~
会议
目的探讨第三磨牙的拔除原因及临床意义分析。方法选择患者415例、符合拔除原因的患牙477颗予以拔除,随访1年~18年不等。结果477颗拔除的患牙中未发现因拔牙而引起邻牙及牙列的
硅酸盐中二氧化硅的分析常采用动物胶凝聚重量法测定,此法较难掌握,分析时间长,方法存在不可克服的0.5%的相对误差.本文在文献[1]的基础上,采用十六烷基三甲基溴化铵代替动物