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用放射性同位素定年方法结合微层计数了解石笋微层的计时特性 ;确定年层的显微图像标志 ;提出矫正石笋层厚时间序列中所包含的沉积趋势的方法 ;建立符合统计要求的层厚量测规则。将石笋年层厚度序列与当地仪器记录的气候要素时间序列进行对比 ,作信号波形分析和统计相关分析 ,找出石笋层厚能够敏感反映的气候要素。如果石笋年层记录的气候信号远强于噪音水平 ,则可利用层厚时间序列重建所敏感反映的气候要素变化历史。利用所建立的方法 ,对北京石花洞石笋进行了实例分析。