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红外焦平面探测器的光谱一致性是评价材料制备水平的重要参数之一。探测器材料因制备工艺的不同而存在差异。由于光谱仪光斑尺寸的限制、探测器杜瓦结构的局限性以及设备采集光谱的巨大数据量，难以对探测器组件的光谱一致性进行测试分析。为此提出了一种新方法，即选取用传统工艺和优化工艺制备的两种探测器样品，并选取成像图中与工艺相关的多个明暗特征区域，再测试这些区域的光谱曲线并对其进行分析汇总，然后通过比较光谱最大差异来评判探测器光谱一致性的优劣。该方法测得两种探测器特征区域的光谱最大差异分别为1.21μm和0.30μm。测试结果表明，优化工艺后的光谱一致性优于传统工艺。