高速自动测试设备的未来

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半导体业正在逐渐过渡到纳米制造工艺.纳米技术带来巨大的好处:几乎可以自由地增加晶体管数.另一方面,CMOS工艺已发生显著地变化,因此,纳米SoC出现新型的制造缺陷.第一个问题是在高频时会增加定时失效数.其他问题还包括串扰、时钟歪斜和同步、高速I/O参量失效,由于其模拟特性,它们对来自相邻数字芯核的注入噪声特别敏感.
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