论文部分内容阅读
采用脉冲激光烧蚀技术,在真空条件下沉积了一系列非晶Si薄膜,并对薄膜样品进行不同能量密度的激光退火处理。通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、Raman散射仪(Raman)等手段对退火后的薄膜进行形貌、晶态成分表征,确定了非晶Si薄膜晶化的激光能量密度阈值(85mJ/cm^2)。结合激光晶化机理进行定量计算。结果显示:形成一个18nm的Si晶粒所需要的能量,即成核势垒大小约为1.4×10^-9mJ。