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为解决传统基于游标原理锁相环片上抖动测量电路的问题，提出了一种基于多精度游标（MRV）原理的锁相环抖动内建自测试技术。该原理不仅能够大幅降低测量电路面积，同时能够有效保证测量精度，减少锁相环（PVT）的影响。将MRV原理运用在游标延时链（VDL）和游标振荡器（VRO）2种典型技术上。在VDL方案中，由单级延时链改进为两级延时链，分别采用粗细2种不同分辨率的延时单元；在VRO方案中，根据待测信号的范围，通过改变振荡器的控制信号，测量电路动态选择相应的分辨率。在TSMC 130 nm工艺下，分别对2种改进方案