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随着集成电路系统复杂性的提高及基于IP核的SOC系统的出现,电路测试的难度不断增大,对电路可测性设计提出了更高的要求.文中在研究了现有各种可测性设计方法优劣后提出了扩展化的JTAG可测性设计电路,它在稍增加电路复杂度的情况下融合各测试方法,并提出了利用这种测试电路的IC系统测试方案.它克服了测试基于IP核的SOC系统的一些难点.