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本文介绍了诊断X射线剂量检测方法,重点论述了其中的关键--基于电离室和半导体技术的辐射剂量探测原理,传感器结构、用途以及各自的特点,对测量不同对象和参量探测器的选择提出了参考意见.本文还提出了近年发展起来的新技术--复合探测器概念以及在诊断X射线质量保证技术上的优势,提出了X射线探测器发展趋势.