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针对内建自测试（Built—In Self-Test，BIST）技术的伪随机测试生成具有测试时间过长，测试功耗过高的缺点，严重影响测试效率等问题。提出一种低功耗测试生成方案，该方案是基于线性反馈移位寄存器（LFSR）设计的一种低功耗测试序列生成结构——LP-TPG（Low Power Test Pattern Generator），由于CMOS电路的测试功耗主要由电路节点的翻转引起．所以对LFSR结构进行改进，在相邻向量间插入向量，这样在保证原序列随机特性的情况下，减少被测电路输入端的跳变．以ISCAS’