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DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制，有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难．文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法，在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路，就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数．
一种DC-DC芯片内建可测性设计
【摘 要】
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DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制，有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难．文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法，在芯片内部设计时只需要增加规模较
【机 构】
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西安电子科技大学电路CAD研究所
【出 处】
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半导体学报
【发表日期】
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2005年9期
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