论文部分内容阅读
本文研究了在低温(430℃)下用PECVD法淀积的SiO<sub>x</sub>N<sub>y</sub>H<sub>z</sub>薄膜的直流电导特性。实验证实这种薄膜即使在x接近1时仍具有极低的电导率(8×10<sup>-17</sup>Ω<sup>-1</sup>·cm<sup>-1</sup>)在室温弱场强下其导电机理符合Mott模型。当