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摘 要 目的：探讨发现和解除种植义齿的咬颌干扰，以保持种植义齿的长期稳定性。方法：通过比较咬合纸法与半可调颌架对早接触检测的敏感性，对检测25例KennedyⅡ牙列缺失种植固定义齿患者的早接触状况进行了分析。结果：采用咬合纸法检测早接触的敏感性不够，但在颌架介导下的调颌具有明显作用。结论：种植义齿的调颌应在颌架指导下进行。
关键词 种植义齿 早接触 颌
早接触虽不影响无牙颌种植义齿总的咀嚼受力，但可使局部应力明显增强，不利于种植体的长期稳定［1］，在口腔种植义齿修复中，医生往往很难避免早接触形成这一环节。目前临床多通过自述、咬合纸、印膜材料等评估早接触，很容易导致错误。因为这些方法很难满足求正中颌的条件，且种植义齿缺乏本体感觉和应力感觉器的支持［2］。颌架是惟一能把颌关系转移到口外的工具，为此本组通过比较咬合纸与颌架法评价早接触的差异，了解种植义齿颌的状况，并分析正确的调颌方法。
资料与方法
一般资料：本组收集我院2009年4月～2011年3月收治的25例KennedyⅡ牙列缺失种植义齿修复患者，男13例，女12例，平均年龄50岁。所有患者均无任何颞下颌下颌关节症状、夜磨牙史、牙体或修复体牙列完整。其中上颌12例，下颌13例。
正中关系的诱导：患者坐立，头位保持直立，用咬合诱导板诱到下颌沿正中关系弧运动，反复达5分钟，并嘱患者微笑，以放松肌肉。
检测方法：①咬合纸法：移走咬合诱导板，在患者下颌双侧放上一层咬合纸，嘱患者轻咬，在牙列图中标出早接触点。②颌架法：不要移走咬合诱导板，用咬合记录硅橡胶，将颌关系固定下来，等待5分钟后取出颌关系，然后用面弓转移关系，取上下模型，上半可调颌架，在牙列图中记录早接触点，并记好调颌顺序。
正中早接触检测：以颌架分析的结果为标准，评估咬合纸法的可靠性。如果咬合纸法所测出的早接触点与颌架测出的早接触点一致，表明正确；否则记为错误。
正中早接触处理：在牙列图中，记录正中早接触点的位置，并通过在颌架上顺次调颌，记下顺次，使每侧至少7点。调颌的安全性以正中弧差的变化为依据。正中弧差是指在颌架上未取下正中关系记录时切导针上的度数与取下正中关系记录的切导针上的度数之差。
统计学方法：数据采用SPSS11.0进行统计分析处理，计数资料采用X>/sup>2检验。
结 果
2种不同方法对早接触的评估比较：正中弧差变化治疗前为2±0.28，1周后为2.7±0.21，2周后为2.8±0.23；治疗前后比较差异具有显著性（P＜0.05）。见表1。
表1 两种不同方法对早接触的评估比较（例）
讨 论
早接触又称为阻断性接触或偏转接触，被定义为使下颌闭合运动偏转或阻碍正常、平滑的下颌运动及使髁状突、牙齿和修复体移位的任何接触［3］。当咬到此点时，用时为30～60秒，可能有弹响、不适、疼痛等症状，此时称此点为症状诱发点。当下颌骨处于正中关系位时，下颌沿正中关系弧运动，这时下颌的运动既不受牙齿的介导，也不受神经肌肉的介导，正中关系是一种恒定的、稳定的关系。如果下颌沿正中弧运动到正中位过程中碰到障碍，即出现正中早接触，再颌架上表现为无法继续运动，而在口内，下颌会出现偏转，绕过障碍到达牙尖交错位。这时下颌处于非正中关系位，即不稳定状态，这当然会潜在引起口颌系统功能紊乱。本研究显示，咬合纸检查正中早接触显然是不妥的，但是，是否一定要在正中关系建颌，也存在争议，还有待进一步研究。
从正中弧的定义来看，正中弧差越小，早接触点越高，CR与ICP位越不一致。正中弧差可反映颞下颌关节功能稳定状态。从本组结果看出，每次的调颌都使CR与ICP趋于一致，这显然有利于颌的稳定。经过一次有效的调颌后，正中弧差发生明显的变化，往后继续调颌的作用不明显。因此建议在KennedyⅡ牙列缺失种植义齿患者复诊时，做一次调颌即可，当然要求患者无任何颞下颌关节症状。CR与ICP趋于一致，并非是CR与ICP的重合。在正常情况下，大部分人的CR与ICP的重合，多数人的CR与ICP是不一致的，存在长正中。用咬合诱导板的目的是让患者记忆习惯的咬合模式，同时建立正中关系咬合模式。如果不用咬合诱导板，所以得到的位置为ICP。
颌架上调颌是在取得正中关系位后进行的，但口内很难通过咬合纸取得CR的调颌位。因此只能通过记录在颌架上的调颌点，再在口内实现CR位下的调颌。但是颌架调多少，与口内调磨多少难以把握，所以本组采用逼近的方法，即每次尽量少调，通过连续几次调磨，使颌架上与口内的调磨尽量一致。从本组比较来看，上颌架分析早接触点不仅能准确确定早接触的牙位，而且还可以标明早接触点，这对于种植临床而言是极其有意义的，同时对保持种植体的长期稳定性、减少颞下颌关节、神经肌肉损伤等也都具有重要作用。
参考文献
1 Falk H,Laurrell L,Lundgren D.Occlusal interferences and cantilever joint stress in implants supported prosthesisoccluding with comlete dentures.Int J oral Maxillofacial Implants,1990,1:70.
2 Korioth TWP.Number and location of occlusal contacts in intercuspal position.J prosthet Dent,1990,64:206.
3 陈宾佳,陈贤文,郭柱坚.KennedyⅡ种植义齿正中早接触的评估处理.广东医学,2004,6:32.
关键词 种植义齿 早接触 颌
早接触虽不影响无牙颌种植义齿总的咀嚼受力，但可使局部应力明显增强，不利于种植体的长期稳定［1］，在口腔种植义齿修复中，医生往往很难避免早接触形成这一环节。目前临床多通过自述、咬合纸、印膜材料等评估早接触，很容易导致错误。因为这些方法很难满足求正中颌的条件，且种植义齿缺乏本体感觉和应力感觉器的支持［2］。颌架是惟一能把颌关系转移到口外的工具，为此本组通过比较咬合纸与颌架法评价早接触的差异，了解种植义齿颌的状况，并分析正确的调颌方法。
资料与方法
一般资料：本组收集我院2009年4月～2011年3月收治的25例KennedyⅡ牙列缺失种植义齿修复患者，男13例，女12例，平均年龄50岁。所有患者均无任何颞下颌下颌关节症状、夜磨牙史、牙体或修复体牙列完整。其中上颌12例，下颌13例。
正中关系的诱导：患者坐立，头位保持直立，用咬合诱导板诱到下颌沿正中关系弧运动，反复达5分钟，并嘱患者微笑，以放松肌肉。
检测方法：①咬合纸法：移走咬合诱导板，在患者下颌双侧放上一层咬合纸，嘱患者轻咬，在牙列图中标出早接触点。②颌架法：不要移走咬合诱导板，用咬合记录硅橡胶，将颌关系固定下来，等待5分钟后取出颌关系，然后用面弓转移关系，取上下模型，上半可调颌架，在牙列图中记录早接触点，并记好调颌顺序。
正中早接触检测：以颌架分析的结果为标准，评估咬合纸法的可靠性。如果咬合纸法所测出的早接触点与颌架测出的早接触点一致，表明正确；否则记为错误。
正中早接触处理：在牙列图中，记录正中早接触点的位置，并通过在颌架上顺次调颌，记下顺次，使每侧至少7点。调颌的安全性以正中弧差的变化为依据。正中弧差是指在颌架上未取下正中关系记录时切导针上的度数与取下正中关系记录的切导针上的度数之差。
统计学方法：数据采用SPSS11.0进行统计分析处理，计数资料采用X>/sup>2检验。
结 果
2种不同方法对早接触的评估比较：正中弧差变化治疗前为2±0.28，1周后为2.7±0.21，2周后为2.8±0.23；治疗前后比较差异具有显著性（P＜0.05）。见表1。
表1 两种不同方法对早接触的评估比较（例）
讨 论
早接触又称为阻断性接触或偏转接触，被定义为使下颌闭合运动偏转或阻碍正常、平滑的下颌运动及使髁状突、牙齿和修复体移位的任何接触［3］。当咬到此点时，用时为30～60秒，可能有弹响、不适、疼痛等症状，此时称此点为症状诱发点。当下颌骨处于正中关系位时，下颌沿正中关系弧运动，这时下颌的运动既不受牙齿的介导，也不受神经肌肉的介导，正中关系是一种恒定的、稳定的关系。如果下颌沿正中弧运动到正中位过程中碰到障碍，即出现正中早接触，再颌架上表现为无法继续运动，而在口内，下颌会出现偏转，绕过障碍到达牙尖交错位。这时下颌处于非正中关系位，即不稳定状态，这当然会潜在引起口颌系统功能紊乱。本研究显示，咬合纸检查正中早接触显然是不妥的，但是，是否一定要在正中关系建颌，也存在争议，还有待进一步研究。
从正中弧的定义来看，正中弧差越小，早接触点越高，CR与ICP位越不一致。正中弧差可反映颞下颌关节功能稳定状态。从本组结果看出，每次的调颌都使CR与ICP趋于一致，这显然有利于颌的稳定。经过一次有效的调颌后，正中弧差发生明显的变化，往后继续调颌的作用不明显。因此建议在KennedyⅡ牙列缺失种植义齿患者复诊时，做一次调颌即可，当然要求患者无任何颞下颌关节症状。CR与ICP趋于一致，并非是CR与ICP的重合。在正常情况下，大部分人的CR与ICP的重合，多数人的CR与ICP是不一致的，存在长正中。用咬合诱导板的目的是让患者记忆习惯的咬合模式，同时建立正中关系咬合模式。如果不用咬合诱导板，所以得到的位置为ICP。
颌架上调颌是在取得正中关系位后进行的，但口内很难通过咬合纸取得CR的调颌位。因此只能通过记录在颌架上的调颌点，再在口内实现CR位下的调颌。但是颌架调多少，与口内调磨多少难以把握，所以本组采用逼近的方法，即每次尽量少调，通过连续几次调磨，使颌架上与口内的调磨尽量一致。从本组比较来看，上颌架分析早接触点不仅能准确确定早接触的牙位，而且还可以标明早接触点，这对于种植临床而言是极其有意义的，同时对保持种植体的长期稳定性、减少颞下颌关节、神经肌肉损伤等也都具有重要作用。
参考文献
1 Falk H,Laurrell L,Lundgren D.Occlusal interferences and cantilever joint stress in implants supported prosthesisoccluding with comlete dentures.Int J oral Maxillofacial Implants,1990,1:70.
2 Korioth TWP.Number and location of occlusal contacts in intercuspal position.J prosthet Dent,1990,64:206.
3 陈宾佳,陈贤文,郭柱坚.KennedyⅡ种植义齿正中早接触的评估处理.广东医学,2004,6:32.