DRC-MME直通标定随机误差估计及最优配置分析

来源 :光学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jinnsey
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
椭偏仪实现高精度测量的关键在于模型值的精准标定,而随机误差是影响标定精度的重要因素。从椭偏仪随机误差的产生原因入手,针对零阶噪声受限、一阶噪声受限、二阶噪声受限三种可能存在的系统,对测量结果随机误差进行了数值估计。为了降低测量结果的随机误差,采用枚举法和遗传算法,得到了三种系统下的最佳配置。数值分析和实验结果表明,比起常用的配置,最佳配置下的随机误差可以降低1/3以上。本文虽然仅给出三种噪声受限系统的最优配置,但是噪声估计结果和优化方法可以适用于多种噪声模型共同存在的模型。
其他文献
我们证明,由于采用偏振的相干反斯托克斯喇曼光谱学,弱喇曼模的接收灵敏度得到极大的提高。共振非线性极化率的实部、虛部和绝对值谱能够分别予以测量。截面低至苯992厘米-1、模2×10-4倍的喇曼模用小于10千瓦峰值功率的激光器即可检测到。
期刊
研究了一个无损测量原子质心动量的精确可解模型,详细分析了无损测量的条件及无损测量的动力学过程。文中分析表明,绝热极限是实现此类模型无损测量的必要条件。最后针对此模型讨论了量子无损测量与表象之间的关系。
We have designed and fabricated zero-bias operational two-element symmetric-connected photodetector arrays (SC-PDAs). The designed SC-PDAs have higher saturation currents, larger RF power, and better frequency responses than the single photodetector (PD)
采用激光熔覆技术在GCr15钢基材上制备FeCrNiSi合金熔覆层,通过超景深显微镜、显微硬度计及摩擦磨损试验机,研究激光工艺参数对熔覆层显微组织、硬度及摩擦磨损性能变化的影响规律。结果表明:随着激光功率增大,熔覆层一次枝晶呈逐渐变大、变长的趋势,一次枝晶间距先增大后减小,二次枝晶间距逐渐减小;随着扫描速度加快,熔覆层一次枝晶呈先变大后减小的趋势,一次枝晶间距先增大后减小,二次枝晶间距先减小后增大。随着激光功率的降低或扫描速度的增加,熔覆层表面硬度提高,当激光功率为2400 W、扫描速度为7 mm/s时,
本文论述了35mm电影大孔径变焦距物镜的设计特点,提出了消象散中间固定组的结构。最后给出了具有中间固定组的新型变焦距物镜实例。它的焦距范围为25~85 mm,相对孔径为1/1.4,视场角为57°~18°。
期刊
研究了水、氯化镁、硫酸镁等无机盐水溶液及乙醇、乙腈等有机溶剂的光声温度效应。探讨了温度变化、液体分子结构弛豫和溶液特性改变对光声信号强度和峰形的影响。
设计了一种基于异质结构的低串扰3-LP模12芯光纤,纤芯采用异质无沟槽辅助的环形折射率分布,结构简单且能增大纤芯的有效模场面积。利用COMSOL软件分析了异质纤芯的芯间串扰、有效模场面积等性能,结果表明,异质纤芯LP01,LP11,LP21模的芯间串扰分别低于-0.78,-0.66,-0.4 dB/km,有效模场面积分别为150,166,200 μm 2。使用方点阵型纤芯排布方式,可实现包层直径约为213.8 μm、相对纤芯复用因子为26.9的低串扰3-LP模12芯光纤设计,为通信容量的升级扩容提供器件支
研究了强激光长程空气传输过程中主光束能量损耗与光束质量退化效应。使用1053 nm单波长、线偏振、脉宽3 ns平顶激光脉冲于空气环境中长距离传输,当入射光强与传输距离乘积大于13.7 TW/cm时,传输末端测得的光束光谱分布中出现了多种散射光频率成分,各散射光成分和1053 nm主激光间的频率差与氮气分子不同转动能级间跃迁频率一致,证明氮气分子的受激转动拉曼散射效应已建立。受激转动拉曼散射过程中,入射光束功率密度微弱变化所产生的散射光能量变化剧烈。入射光强与传输距离乘积大于17 TW/cm时,传输末端光束
High power laser diodes (LDs) with a lasing wavelength between 700 and 780 nm have great potential in various medical uses. Here, we report our recent efforts in developing an InGaAsP/AlGaInP-based commercial high power edge-emitting LD, which has 755 nm
SnO2 thin films with good orientation are prepared on a glass substrate by radio frequence (RF) reactive sputtering. The phases of the thin films before and after annealing are analyzed by X-ray diffraction (XRD) spectroscopy, and the surface morphologies