SI诊断算法

来源 :微电子学与计算机 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yilishabai123
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本文针对PMC模型最佳设计Dδt设计的系统级诊断提出一种诊断算法,命名为SI诊断算法,该算法充分利用了Dδ.t设计系统图是t次正则图的特点,计算复杂性为O(n2)。 Aiming at the system-level diagnosis of Dδt design, which is the best design of PMC model, a diagnostic algorithm named SI is proposed, which makes full use of Dδ. t design system diagram is t times the regular graph features, the computational complexity of O (n2).
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