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芯片系统对测试提出新的挑战--芯片系统需要新的测试技术和新的测试开发方法
芯片系统对测试提出新的挑战--芯片系统需要新的测试技术和新的测试开发方法
来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:windsway
【摘 要】
:
芯片系统是近几年提出的。一种新出现,必然要有新的测试技术跟上。本文就芯片测试问题提出了一些看法。
【作 者】
:
汪庆宝
【出 处】
:
国外电子测量技术
【发表日期】
:
1999年4期
【关键词】
:
芯片系统测试
扫描测试
BIST
IC
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芯片系统是近几年提出的。一种新出现,必然要有新的测试技术跟上。本文就芯片测试问题提出了一些看法。
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