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采用脉冲激光沉积法,在单侧抛光的STO基底上制备YSZ/STO/YSZ超晶格薄膜.利用X射线衍射、扫描电镜和射频阻抗/材料分析仪对多层膜的物相结构、表面形貌以及电学特性等进行表征.实验结果发现,YSZ/STO/YSZ超晶格薄膜在300~500℃之间,其电导活化能最小值为0.76 eV,在300℃时测得的电导率比体材料的电导率提高了三个数量级.