有效线吸收系数能谱效应综合法研究

来源 :光子学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sunday_rectina
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利用综合法(照射量传递函数法、剥层法和MC数值模拟法)研究了闪光照相中法国实验客体FTO(French Test Object)中各种材料的有效线吸收系数.结果表明:在照相过程中,随着X光穿透的加深,其能谱不断地向材料最小质量吸收系数对应的能量值演变并窄化.在这样的能谱效应下,有效线吸收系数随着穿透材料厚度的加深而减小.铜的平均有效线吸收系数为0.299(1±3.0%)cm-1,钨的平均有效线吸收系数为0.829(1±2.7%)cm-1.在图像重建中,利用上述的有效线吸收系数能够得到高
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