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目前常用的FPGA器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法,其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了FPGA器件的结构和工作原理的基础上,提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案,对逻辑单元、嵌入式阵列和I/O双向管脚的覆盖率可达100%,且功能简单、结构清晰,易于模拟测试向量和故障定位。