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采用SEM及EDS，观察和分析了PTC热敏陶瓷（PTCR）生产过程中，瓷体表面斑点的微观形貌及微区化学成分。结果表明：异常区域中，w（Pb）较正常区域高0．1％以上，该区域晶粒尺寸为10—20μm，明显大于正常区域晶粒（5-10μm），且其斑点处的室温电阻值大于正常区域。对其形成原因进行分析，并提出了相应的解决措施。