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磁控溅射PtSi/p-Si纳米薄膜组织结构的研究
磁控溅射PtSi/p-Si纳米薄膜组织结构的研究
来源 :稀有金属材料与工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sn00426
【摘 要】
:
采用磁控溅射方法在p-Si(111)衬底上淀积5nmPt膜,分别在350℃~600℃退火.原子力显微镜(AFM)观察和X射线光电子谱(XPS)分析表明,随退火温度的增加,平坦的薄膜表面变得粗糙,其相
【作 者】
:
殷景华
蔡伟
李美成
赵连城
【机 构】
:
哈尔滨理工大学,哈尔滨工业大学
【出 处】
:
稀有金属材料与工程
【发表日期】
:
2003年9期
【关键词】
:
PTSI
薄膜
表面形貌
组织结构
PtSi
films
surface morphology
structure
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采用磁控溅射方法在p-Si(111)衬底上淀积5nmPt膜,分别在350℃~600℃退火.原子力显微镜(AFM)观察和X射线光电子谱(XPS)分析表明,随退火温度的增加,平坦的薄膜表面变得粗糙,其相分布由Pt-Pt2Si-PtSi变为Pt+Pt2Si+PtSi-PtSi.
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