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FinFET作为现在最前沿的晶体管技术,在嵌入式存储器上得到了广泛应用.但是,新的工艺也带来了新的缺陷.Synopsys公司通过故障建模及测试发现:FinFET存储器比平面存储器对动态故障更敏感.而经典的测试算法仅仅针对静态故障.目前关于动态故障的测试算法极少,并且复杂度很高.因此,本文提出了一种改进的动态故障测试算法,该算法能够覆盖所有连续两次敏化操作的单单元动态故障.