Ta2O5单晶激光法生长及其介电性质研究

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采用激光加热基座生长法(LHPG)生长出直径1.1 mm、长数厘米的Ta2O5单晶。对所生长晶体进行了XRD表征,测量了该晶体在 [001] 和 [110] 方向上介电系数和介电损耗随温度的变化。Ta2O5晶体表现出很强的介电各向异性,室温、1 MHz频率下,[001] 方向介电系数为33.1,而[110]方向介电系数为231.9。对采用LHPG技术生长的Ta2O5单晶介电增强的原因进行了讨论。
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