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应用自建的超高真空原位装置及扫描俄歇微探针技术。研究了Ａｕ－Ａｇ／Ｓｉ体系的表面电迁移现象。观测到清洁Ｓｉ表面上的Ａｕ／Ａｇ／Ｓｉ和Ａｇ／Ａｕ／Ｓｉ复层薄膜在直流电场作用下呈现明显的两相分离，Ａｕ，Ａｇ分别向着外加电场拨乱反正 和负极方向快速迁扩展，总的迁移速率对Ａｕ／Ａｇ／Ｓｉ约为０．６３μｍ／ｓ而对Ａｇ／Ａｕ／Ｓｉ为０．３７μｍｓ。实验结果表明，复合膜的结构，即其形成次序虽不影响Ａｕ，Ａｇ各自