论文部分内容阅读
美国国家仪器有限公司(National Instruments.简称NI)发布10款最新PXI产品,有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能。全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计,包含四个高速数字I/O(HSDIO)仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源测量单元(SMU)和专用数字数字矢量文件导入软件。