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应用电子显微镜首次在ＺｎＴｅ外延膜中观察到分布在（１１１）和（１１１）滑移面上、宽度为４０ｎｍ的三重位错带。每条位错带含有三根不全位错，其Ｂｕｒｇｅｒｓ矢量为三个相同的（１１２）α／６。在进行了各种衍的分析和模拟之后，这类三重位带被证明是由两个部分重叠的层错组成的。它们的来源归 为两个相互垂直扩展的失配位错的“强制”反应。