马氏体晶格参量的X射线测量方法研究

来源 :光散射学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yangxfg
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马氏体具有四方的结构,其四方性随含碳量的增加而增大,点阵发生扭曲,当含碳量比较高时,原来α-铁晶体的晶面如(110)、(200)、(211)、(220)等的衍射线条分解成为双重线(101-110、002-200、112-211、202-220)。当含碳量降低时,双重线非常靠近,形成了一条宽的线带,使得马氏体晶格参量的测量十分困难。本文利用每对双重线中的多重性因素的变化特点(如101为8,110为4,002为2,200为4,112为8,211为16等)提出了低碳马氏体晶格参量的测量方法。 The martensite has a tetragonal structure. The tetragon of the martensite increases with the increase of the carbon content and the lattice distorts. When the carbon content is relatively high, the crystal planes of the original α-iron crystal such as (110), (200) , (211), (220) and the like are broken into double lines (101-110, 002-200, 112-211, 202-220). As the carbon content decreases, the double lines come very close together to form a broad band that makes it difficult to measure martensitic lattice parameters. In this paper, we use the variation characteristics of multiple factors in each pair of double lines (for example, 101 is 8,110 is 4,002, 2,200 is 4,112 is 8,211 is 16, etc.), the measurement method of low-carbon martensite lattice parameters is proposed.
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