【摘 要】
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针对目前光电印制板(OEPCB)中光电器件与光波导对接的垂直耦合结构耦合效率较低的问题, 分析了传统嵌入式45°反射微镜的垂直耦合结构, 提出了一种新的垂直耦合结构, 经Matlab仿真验证其具有更高的垂直耦合效率。研究表明, 新结构对光电对准精度要求不高, 受传统PCB制作工艺的层压的高温高压影响更小、便于兼容传统PCB制作工艺。
【机 构】
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西安电子科技大学1.电路CAD所2.电子工程学院,西安710071青海师范大学计算机学院,西宁810008
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针对目前光电印制板(OEPCB)中光电器件与光波导对接的垂直耦合结构耦合效率较低的问题, 分析了传统嵌入式45°反射微镜的垂直耦合结构, 提出了一种新的垂直耦合结构, 经Matlab仿真验证其具有更高的垂直耦合效率。研究表明, 新结构对光电对准精度要求不高, 受传统PCB制作工艺的层压的高温高压影响更小、便于兼容传统PCB制作工艺。
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