论文部分内容阅读
本文利用灰色理论的方法找到了适用于电子产品加速寿命试验数据处理的一种新的加速寿命方程——GALM*.通过实例计算,与现已存在的加速寿命模型(ALM),如,Arrhenius方程,逆幂律方程相比,有无须顾及寿命分布类型、计算简便、精度高等优点.本文提到的模型检验方法和标准,更有利于对各种模型进行比较,实施优选.