【摘 要】
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为解决氟化铝X射线荧光光谱分析(压片)标准方法中:低沸点试剂挥发和研磨时间不明的问题,选择直接研磨制样,X射线荧光光谱法测定氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷等组分含
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为解决氟化铝X射线荧光光谱分析(压片)标准方法中:低沸点试剂挥发和研磨时间不明的问题,选择直接研磨制样,X射线荧光光谱法测定氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷等组分含量;试验表明研磨时间对测定准确度有较大影响,随着研磨时间增加,样品粒度不断下降,氟元素荧光强度逐步增大,100 s时处于临界拐点,研磨超过100 s可得到良好结果;采用1,2-丙二醇代替乙醇等易挥发试剂,可避免设备光室压力过大现象;样品精密度试验中所有元素组分的相对标准偏差(RSD)在5%以下,方法重现性良好;标准样品的测定结果和定值一致,氟
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