1.23GeV Fe离子在C60薄膜中形成潜径迹的Raman谱分析

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用能量为1.23 GeV的快Fe离子辐照了多层堆叠的C60薄膜.用Raman散射技术分析了快Fe离子在C60薄膜中由强电子激发引起的效应,主要包括辐照引起C60分子的聚合及其高温、高压相(HTHP)的形成,和在高电子能损下C60晶体点阵位置上的C60分子向非晶碳的转变.由此演绎出了快Fe离子在C60薄膜中的损伤截面或潜径迹截面σ和潜径迹的半径Re,及其随沉积在电子系统中的能量密度的变化而变化的规律.
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