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对铁芯结构的改进有利于降低微型磁通门传感器的噪声,本文对铁芯结构进行了拓扑分析与优化,并采用标准MEMS工艺制备了相应的多孔铁芯结构微型磁通门,对所制备的微型磁通门进行了主要噪声指标的综合测试与对比分析。实验结果表明,改进后的多孔铁芯结构能很好地降低微型磁通门传感器的噪声,提高器件的综合性能。