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扼要介绍边界扫描测试技术的发展、IEEE1149系列测试标准及其影响
边界扫描测试技术的发展和影响
【摘 要】
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扼要介绍边界扫描测试技术的发展、IEEE1149系列测试标准及其影响
【机 构】
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同济大学中德学院
【出 处】
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电子元器件应用
【发表日期】
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2005年1期
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