边界扫描相关论文
随着技术的发展，新装备中大规模集成电路的应用越来越广泛，边界扫描测试（JTAG测试）的功能逐渐强大和完善，已成为国际上通用的电路板测试......
BIT（build-in test）即内建测试,是一种可以让设备进行自检测的机制,也是可测试性设计的一种实现技术。内建自测试系统的目的主要是简......
随着电路板集成度的不断提高,传统测试方法已经难以满足高密度电路板的测试需求,边界扫描技术的出现为解决高密度电路板的测试问题......
针对国产处理器JTAG调试工具的选择少、功能有限的现状,基于开源的JTAG控制器,设计了一种申威421处理器应用系统JTAG调试工具.阐述......
随着集成电路及微电子技术的发展,集成电路芯片作为信息的载体应用在各种领域。集成电路芯片测试包括功能、性能、可靠性及安全性......
本文分析了SMT板级电路的特点,剖析其内在的各类的缺陷类型及所需的检测方法,指出各种检测方法的缺陷检查覆盖面的不足,讨论了几种......
本文介绍了一种JTAG边界扫描控制器结构,并以基本的RISC微处理器芯片进行处理。文中详细的说明了相关的命令及它们的应用。文中对......
本文简单介绍了DFT测试的种类,对比了这几种方法的优缺点.PCB的发展速度显然超出了测试的发展速度,有越来越多的PCB因为测试达不到......
电路互联故障是设备、电路故障的主要形式之一,本文基于边界扫描技术研究了边界扫描技术在电路互联故障测试技术中的应用,并使用SN......
论文详细地列举了多故障测试生成算法的征兆误判和征兆混淆类型,分别给出了W-O对角独立性、W-A对角独立性及同时具备W-O和W-A对角......
本文设计实现了一个适用于基于ARM核的嵌入式系统的调试工具,它首先定义了一个轻量级的远程调试协议EmRDI,用于PC机与基于ARM核的......
随着深亚微米、超深亚微米工艺的发展,系统芯片(SoC)技术成为微电子技术发展的主流.相应地,传统的测试技术已不能满足需要.本文介......
文章介绍了基于IEEE 1149.1Std的边界扫描测试系统的工作原理、重点探讨了系统的软件设计与实现,该边界扫描测试系统支持JTAG协议......
近年来，随着信息化武器装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加，迫切需要基于边界扫描的BIST技术；在这种应用模式中，基于......
在IC工业界,经常要决定各种对产品和生产这些产品的厂商产生重大影响的目标。定这些目标的人包括:设计,工艺技术,电性能测试,可靠......
美国Teradyne(泰瑞达)公司于1996年11月12日在德国慕尼黑推出了第一台采用VXI结构的生产测试平台,以满足对最新的表面贴装电路板......
标准在测试和测量领域是非常重要的。商用标准把供方和买方之间的误解减少到最低程度，并有助于保证测试是可重复的。政府标准和军用......
测试是电子工业生产中的重要组成部分,所有的测试都是为了这样一个目标:生产高质量的产品。长期以来,特别是对于军工电子产品,为......
印制电路板(PCB)的面市与发展,随之而出现了测试它们的测试夹具。由于印制电路板上元件密度的增加,测头制造商便设计了小型的测头......
本文在边界扫描原理的基础上,对几种边界扫描单元(输入,输出,三态输出,双向)的结构做了设计和实现。
Based on the principle of ......
在一个ASICs可测试性新时代中,边界扫描结构已经成为一种可实现的技术。尽管起初它的开发是为了便于表面安装器件的电路板互连测......
边界扫描和其它可测性设计技术在当今系统级测试集成中扮演着越来越重要的角色。在过去一年里,随着可利用的元器件和工具逐渐增多......
本文讨论了板级生产测试的开发。该电路板采用表面安装技术,并实现了边界扫描。板上混装了几种类型的器件。文章介绍了一种有效开......
文中讨论了应用IEEE1149.1边界扫描机制实现电子设备系统级测试的方法。并就集中测试和分布式测试策略的实施及优缺点进行了具体阐......
论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成......
美国Hewlett-Packard公司的HP3070系列3测试仪,适用于在线测试和诊断,其吞吐速度为现有测试仪的两倍,而
The HP3070 Series 3 Te......
.际会议旅述 DATE’98反映了设计和洲试观念的改变·····································......
综合评述 仪器仪表的2000年计时问题···~··············“”························......
芯片系统是近几年提出的。一种新技术出现,必然要有新的测试技术跟上。本文就芯片测试问题提出了一些看法。
Chip system is prop......
现在电子设备变得越来越复杂,这对元器件的质量提出了新的要求。为此,器件生产厂商不断提高生产过程控制和最终产品的测试能力,并......
文中在分析目前PCB测试问题的基础上,提出了一种可测性设计的新方法。该方法综合应用了边界扫描置位技术,可以提高电路的可控性和......
随着分立元件的体积越来越小,你不能再考虑用探针来检测,而应考虑用模拟边界扫描。
As discrete components become smaller and ......
虽然内置自测试(built-in-self-test简写为BIST)已探讨了近25年,但直到最近使用它的用户才有所增长。过去只有集成系统行业内的公......
可变长度边界扫描电路，作为一个通用器件与非边界扫描电路结合而构成一个具有边界扫描能力的模块，以改善电路的可测性，并能够适应端口......
提出一种在高层次综合过程中考虑可测性的算子资源分配算法：在算子调度完成后，通过建立各个算子之间的操作相容图和可测性相斥图，从而......
本文综述了功能测试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边......
文中在分析改良计数算法和移位“1”算法的基础上,提出了一种新型的边界扫描测试向量生成算法——等权值算法。该算法实现了测试向......
当今的IC和印制电路板非常复杂,需要进行大量而且复杂的测试,因而电子产品的开发和制造成本大幅度上升。
Today’s ICs and print......
本文介绍了测试技术的演进,并例举了Synopsys公司,Syntest Technologies等公司在研发DET技 术中的例子。
This article describes......
本文介绍了基于平台的SoC技术,对其关键技术进行了介绍,比较了基于平台的SoC技术与传统IC技术的异同。
This paper introduces th......
本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界......
