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采用火焰法水解法在Si衬底上制备了厚度约20 μm的波导下包层材料SiO2膜.利用原子力显微镜(AFM)、X射线光电子能谱(XPS)及可变入射角椭圆偏振仪(VASE)对其进行了测试分析,得到了空气中1 400 ℃退火后SiO2的均方根粗糙度为0.184 nm,原子比为1∶2.183,在1.55 μm处的折射率为1.456 4.