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用电化学阻抗谱法（EIS）研究了碳钢／冷却水界面．揭示了碳钢／冷却水界面腐蚀和结垢产物层的形成和演化过程。发现该层的性质取决于使用的抑制剂的性能。如缓蚀剂羟基膦酰基乙酸（HPA）与Ca^2＋离子螯合生成的产物层具有很好的缓蚀作用。另外，阻垢剂HEDP进入碳酸钙晶体表面。改变了晶体结构，减少了界面上垢的形成，同时还有缓蚀的功能.