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针对现有基于离散事件系统测试性建模过程繁琐的问题,提出了一种改进的测试性建模方法。首先分析了针对数模混合电路的测试性建模方法的优劣;然后借鉴相关性模型建模方法,将故障与测试相关性矩阵引入到基于DES的测试性建模中,并建立基于改进离散事件系统的芯片级、板级电路建模策略;最后通过两个建模实例展示具体的建模步骤。实例分析结果表明,该方法可以有效解决基于离散事件系统测试性建模方法计算复杂程度高,建模过程复杂的问题。