基于V93k ATE的SoC芯片输出不稳定的测试方法

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分析表明,大多数SoC芯片是基于锁相环倍频外部时钟或内部时钟来运行的,而芯片之间的加工工艺存在细微差异,导致各个芯片工作可能的存在时序差异。即使同一颗芯片在不同的电压和温度的条件下,其工作时序也存在一定差异。针对芯片波形时序不稳定的情况,介绍一种基于V93k ATE的波形转换跟踪的测试方法。
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