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本文首次采用真空电子显示器件（ＣＲＴ）在各个生产工艺及使用主要原材料的可靠性数据，根据这类器件的失效模式和可靠性理论，运用数理统计、多元回归的分析方法，得出评价此类器件固有可靠性的数学模型，找出影响ＣＲＴ基本失效率与排气、阴极、电子枪等三个关键变量之间关系的结论，并对表征ＣＲＴ可靠性水平的数学模型和模型验证进行讨论。这是目前对真空电子器件只能用常规寿命试验才能进行可靠性评价之外的另一途径的尝试和探