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荷能离子束沉积的氧化物薄膜光学性质
荷能离子束沉积的氧化物薄膜光学性质
来源 :光学仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wangyang2005
【摘 要】
:
报道在不加热的基底上,由双离子束溅射或离子辅助的电子束蒸发技术制的ZrO2和TiO2单摹光学性质,并提供卫工艺参数和离子束设备的说情。这两种荷 能离子束工艺已被用于光学多层膜,如减反
【作 者】
:
郭屏
郑舒颖
【机 构】
:
北京师范大学物理系,北京光电技术研究所
【出 处】
:
光学仪器
【发表日期】
:
1999年4期
【关键词】
:
离子辅助沉积
光学特征
氧化物薄膜
减反射膜
Ion Beam Sputtering
Ion Assisted Deposition
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报道在不加热的基底上,由双离子束溅射或离子辅助的电子束蒸发技术制的ZrO2和TiO2单摹光学性质,并提供卫工艺参数和离子束设备的说情。这两种荷 能离子束工艺已被用于光学多层膜,如减反射膜和短波通滤光片的制备
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