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研究了测量仪器校准过程的随机过程模型，分析了对测量仪器在测量过程中的误差来源，确定了系统误差是影响测量仪器校准的决定性因素，给出了系统误差随时间变化的规律。利用随机过程的方法来分析系统误差的变化过程，建立了系统误差的随机过程模型——误差累加模型和维纳过程模型。最后利用电压源的测量数据对所建立的维纳过程模型进行了验证，实验证明，利用随机过程的方法分析确定测量仪器的校准时间间隔具有一定的应用价值.