生长于Si(111)上的氮化硅薄膜表面结构

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:datou19881020
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利用扫描隧道显微镜(STM)等分析手段,我们对Si(111)在NH3气氛下氮化后的表面结构进行了研究,Si(111)在1075K暴露于NH3后,表现所形成的氮化硅存在周期为1.02nm的(“8/3×8/3”)再构,当温度提高到1125K以上时,表面出现周期为3.07nm的超结构。这两种面超结构都可以形成“8×8”低能电子衍射花样,系统的研究证明3.07nm超结构是在Si(111)表面形成晶态β-S
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