基于非接触精密视觉测量的硬盘磁头头偏测量系统

来源 :计算机测量与控制 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sfish001
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应用基于机器视觉的非接触测量技术对计算机硬盘磁头的头偏测量, 不仅满足了磁头生产防污、防ESD的需要, 而且实现了精密测量的需要; 对测量数据的采集处理以及SPC实时监控, 有效地实现了生产过程的控制和预报; 与FIS系统的连接实现了生产数据的可追溯性, 为生产管理现代化提供一个强有力的工具.系统已广泛应用于硬盘磁头生产线.
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