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为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台,可自动地完成布局及软错误率评估.模拟结果表明,该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度,减少14%~26%的软错误率.