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本文以SnCl4.5 H2O、CO(NH2)2和YCl3为原料,利用微波水解法分别制备了纯的和掺杂2mol%、3mol%、5mol%Y3+的SnO2粉体。并利用X-射线衍射(XRD),扫描电镜(SEM)对其进行表征。结果表明:实验掺杂范围内,Y3+的掺杂对SnO2晶格没有影响;掺杂的Y3+可以抑制SnO2晶粒的生长,使得晶粒变小且变的均匀,孔隙率增大。