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本文针对微波电路元件焊接脱落问题,分析了In/Au合金焊点的微观结构及成分,研究了In/Au芯片焊接的失效模式.找出了焊点脱落的主要原因：温度控制不当引起焊点的过热吃金或焊料的氧化引起的浸润不良,导致焊点的结合强度不够,致使焊点脱落.根据分析提出了严格控制温度及焊接时使用氮气保护的改进意见,较好的解决了In/Au合金焊接脱落问题,支撑了微波电路的生产工艺.