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本文描述双极场引晶体管(BiFET)飘移扩散理论,包括薄纯基上两个等同金属氧化物硅(MOS)栅,把两维晶体管分解成两个一维问题,以表面势为参变量,得到解析方程,提供实用硅基和氧化层厚度范围内,随直流电压变化,输出和转移电流和电导总量和飘移扩散分量。显著部分的飘移电流来自横向电场平方的纵向梯度。